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絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試

簡(jiǎn)要描述：絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

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更新時(shí)間：2025-09-15
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功能材料測(cè)試儀器

壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀激光測(cè)振儀傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，華測(cè)絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

測(cè)試步驟：

一、從整盤(pán)線纜中截取樣品線10m（不小于10m，測(cè)量誤差應(yīng)不超過(guò)1%），然后打彎兩端剝開(kāi)100mm放在水浴中，留在水外面的兩端長(zhǎng)度應(yīng)不小于250mm。

二、接上電源，打開(kāi)設(shè)備。接上設(shè)備的兩根測(cè)試線，一根為紅色的高壓端接線纜線芯的導(dǎo)體上作為測(cè)試的一極，另一根黑色的低端測(cè)試線接上一個(gè)導(dǎo)體放在水中作為測(cè)試的另一極。

三、根據(jù)試驗(yàn)要求調(diào)節(jié)電壓檔旋鈕選擇需要的電壓。然后開(kāi)始調(diào)節(jié)電阻檔旋鈕，在調(diào)節(jié)的過(guò)程中一邊調(diào)節(jié)一邊注意數(shù)碼管顯示的數(shù)值直到數(shù)值發(fā)生變化，停止調(diào)節(jié)電阻檔旋鈕，此時(shí)調(diào)節(jié)定時(shí)器為60s，然后啟動(dòng)定時(shí)器并把測(cè)試旋鈕調(diào)到測(cè)試位置。此時(shí)就開(kāi)始測(cè)試了，定時(shí)60s結(jié)束后儀器會(huì)自動(dòng)結(jié)束測(cè)試，此時(shí)數(shù)碼管顯示的數(shù)值乘以電阻檔的調(diào)節(jié)旋鈕對(duì)應(yīng)的數(shù)值就是所取樣品線的絕緣電阻值。

四、測(cè)試完畢后，應(yīng)把測(cè)試旋鈕調(diào)到放電狀態(tài)，等1minutes中后取下樣品和測(cè)試線。

五、完成測(cè)試。