絕緣材料表面體積電阻率測(cè)試儀器

絕緣材料表面體積電阻率測(cè)試儀器設(shè)備原理：

根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過測(cè)量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化，所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。

Huace-300 數(shù)字型絕緣材料表面體積電阻率測(cè)試儀是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以，即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大，從理論上講其誤差可以做到零，而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬(wàn)分之幾。

技術(shù)參數(shù):

設(shè)備優(yōu)勢(shì)：

電阻測(cè)量范圍 1×10⁴Ω ～1×10¹⁸ Ω；

電流測(cè)量范圍 2×10^-4Ａ ～1×10^-16Ａ；

體積小、重量輕、；

被測(cè)電阻、和流過電阻的電流雙顯示，使操作測(cè)量方便；
穩(wěn)定、讀數(shù)方便；
既能測(cè)電阻又能測(cè)電流；
測(cè)試電壓有六種選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；

使用操作簡(jiǎn)便，在任何電阻量程和測(cè)試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果，免去要乘以一個(gè)系數(shù)的麻煩，使測(cè)量電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。